La actividad denominada “Análisis de superficies e Interfaces”comprende la posibilidad de realización de dos técnicas de caracterización de superficies: desde el punto de vista químico, la primera, y estructural, la segunda.

Específicamente, comprenden los siguientes tipos de análisis:

1)     Espectro Auger

2)     Espectro Auger múltiple

3)     Perfil en profundidad

4)     Perfil en profundidad múltiple

5)     Espectro Auger preferencial

6)     Espectro Auger preferencial múltiple

7)     Perfil en profundidad preferencial

8)     Perfil en profundidad múltiple preferencial

9)     Microscopia de Fuerza Atómica, AFM aire

10)   Microscopia túnel de barrido, STM aire

11)   Microscopia túnel de barrido, STM/UHV

12)   Tratamiento de muestra para cada prestación

Análisis por espectroscopia de electrones Auger

        Es una técnica analítica que permite caracterizar químicamente la superficie de un material sólido, en un sistema en ultra alto vacío. La información proporcionada consiste en una representación (espectro) de la intensidad de las señales características de los diferentes elementos químicos presentes, en función de la energía de los electrones Auger emitidos y detectados.

        Dentro de esta descripción se incluyen las actividades 1) a 8). Las actividades 1), 2), 5) y 6) se refieren a la adquisición de uno o más espectros. El término “preferencial” hace referencia al trabajo que requiera de tratamiento urgente.

        El estudio “en profundidad” consiste en el análisis superficial de la muestra, de acuerdo a lo detallado previamente, seguido de un proceso continuo de decapado de dicha superficie mediante un procedimiento de bombardeo con iones de gases nobles. A causa de dicha erosión, a medida que se avanza en profundidad, quedan expuestas sucesivas superficies del material que se encuentran formando parte del mismo. En forma simultánea al decapado se obtienen espectros que permiten obtener información química, o perfil en profundidad. Las actividades 3), 4), 7) y 8) responden a este tipo de estudio.

Microscopia de Fuerza Atómica, AFM

        Es una técnica que permite estudiar la topografía superficial de un material a partir de las fuerzas de interacción “cantilever”/muestra, propiedades de fricción, eléctricas y magnéticas de la misma según el modo de trabajo elegido. Es utilizado para analizar superficies aislantes, conductoras o semiconductoras, a partir de puntas conductoras, no conductoras, magnéticas y modificadas. Como trabaja a presión atmosférica sirve para analizar muestras poco propensas a contaminarse con elementos atmosféricos. La actividad 9) responde a este tipo de estudio.

Microscopia túnel de barrido, STM

Es una técnica que, básicamente, se utiliza para analizar superficies de muestras conductoras, pudiendo ser metálicas, semiconductoras o películas muy delgadas de materiales aislantes. En el laboratorio se cuenta con dos tipos de cabezales diferentes. Uno de ellos trabaja a presión atmosférica, y en forma similar a lo que ocurre con el AFM, sirve para analizar muestras inertes (i.e. donde las condiciones ambientales no afectan las propiedades de la muestra). El otro cabezal trabaja bajo condiciones de ultra alto vacío (UHV). Sirve para analizar muestras sensibles a las condiciones ambientales y que poseen baja presión de vapor a temperatura ambiente. Se utilizan puntas metálicas, que suelen ser de W o Pt/Ir dependiendo del medio donde se hace el experimento (UHV o aire) y el tipo de muestra que se va a medir. Las actividades 10) y 11) responden a este tipo de estudio.

Los microscopios forman parte del Sistema Nacional de Microscopía (SNM), MiNCyT.

Tratamiento de muestra para cada prestación

El ítem 12) contempla aquellos tratamientos específicos que sean necesarios realizar al material en forma previa a su estudio. Son ejemplos de ellos: cortes a determinadas formas o tamaños, pulido de la superficie, otros.

Contactos:

Por espectroscopía Auger, Dra. Silvia Montoro: silvia.montoro@santafe-conicet.gov.ar

Por microscopías, Dr. Mario C. G. Passeggi (h): mpggih@ifis.santafe-conicet.gov.ar